IEC 60749-18, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods

prEN 60749-18

IEC 60749-18, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-08-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

prEN 60749-18

Tên tiêu chuẩn

IEC 60749-18, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Ngày phát hành

2002-08-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

C96-022-18PR, IDT * IEC 47/1657/FDIS (2002-08), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

prEN 60749-18 (2001-11)

Thay thế bằng

EN 60749-18 (2003-02)

Lịch sử ban hành

EN 60749-18 (2003-02) * prEN 60749-18 (2002-08) * prEN 60749-18 (2001-11)

Từ khóa

Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Destructive testing * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Ionizing radiation * Mechanical testing * Radiation effects * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

IEC 60749-18, Ed. 1: Ionising Radiation (total dose) - Test procedure
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-18
Ngày phát hành	2001-11-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn	EN 60749-18
Ngày phát hành	2003-02-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

IEC 60749-18, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-18
Ngày phát hành	2002-08-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực