IEC 60749-16, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) test

prEN 60749-16

Số trang:
Ngày phát hành: 2001-11-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

prEN 60749-16

Tên tiêu chuẩn

IEC 60749-16, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) test

Ngày phát hành

2001-11-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

DIN EN 60749-16 (2002-05), IDT * IEC 47/1584/CDV (2001-11), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-16 (2002-01-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

Thay thế bằng

prEN 60749-16 (2002-10)

Lịch sử ban hành

EN 60749-16 (2003-04) * prEN 60749-16 (2002-10) * prEN 60749-16 (2001-11)

Từ khóa

Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Impurities * Impurity * Integrated circuits * Mechanical testing * Particulate matter * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

IEC 60749-16, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-16
Ngày phát hành	2002-10-00
Mục phân loại	17.140.20. Tiếng ồn do máy và thiết bị 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003)
Số hiệu tiêu chuẩn	EN 60749-16
Ngày phát hành	2003-04-00
Mục phân loại	17.140.20. Tiếng ồn do máy và thiết bị 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực