Loading data. Please wait

EN 60749-16

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003)

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-04-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
EN 60749-16
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003)
Ngày phát hành
2003-04-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-16 (2003-09), IDT * BS EN 60749-16 (2003-06-19), IDT * NF C96-022-16 (2003-07-01), IDT * IEC 60749-16 (2003-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-16 (2003-10-01), IDT * PN-EN 60749-16 (2003-12-15), IDT * PN-EN 60749-16 (2005-10-24), IDT * SS-EN 60749-16 (2003-10-20), IDT * UNE-EN 60749-16 (2003-11-21), IDT * TS EN 60749-16 (2008-04-10), IDT * STN EN 60749-16 (2003-10-01), IDT * CSN EN 60749-16 (2003-11-01), IDT * DS/EN 60749-16 (2003-08-11), IDT * NEN-EN-IEC 60749-16:2003 en;fr (2003-06-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
prEN 60749-16 (2002-10)
IEC 60749-16, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-16
Ngày phát hành 2002-10-00
Mục phân loại 17.140.20. Tiếng ồn do máy và thiết bị
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
EN 60749-16 (2003-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) (IEC 60749-16:2003)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-16
Ngày phát hành 2003-04-00
Mục phân loại 17.140.20. Tiếng ồn do máy và thiết bị
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-16 (2002-10)
IEC 60749-16, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-16
Ngày phát hành 2002-10-00
Mục phân loại 17.140.20. Tiếng ồn do máy và thiết bị
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-16 (2001-11)
IEC 60749-16, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) test
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-16
Ngày phát hành 2001-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Impurities * Impurity * Integrated circuits * Mechanical testing * Noise * Noise measurements * Particulate matter * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Số trang