IC Latch-Up Test

EIA JESD 78A

IC Latch-Up Test

Số trang: 30
Ngày phát hành: 2006-02-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

This specification covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. Purpose The purpose of this specification is to establish a method for determining IC latch-up characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are extremely important in determining product reliability and minimizing No Trouble Found (NTF) and Electrical Overstress (EOS) failures due to latch-up. This test method is applicable to NMOS, CMOS, bipolar, and all variations and combinations of these technologies.

Số hiệu tiêu chuẩn

EIA JESD 78A

Tên tiêu chuẩn

IC Latch-Up Test

Ngày phát hành

2006-02-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

EIA JESD 78 (1997-03)

Thay thế bằng

EIA JESD 78B (2008-12)

Lịch sử ban hành

EIA JESD 78 (1997-03) * EIA JESD 78A (2006-02) * EIA JESD 78B (2008-12) * EIA JESD 78C (2010-09) * EIA JESD 78D (2011-11) * EIA JESD 17 (1988)

Từ khóa

Latch-up * Telecommunications * Tests

Mục phân loại

33.040.50. Ðường dây, nối tiếp và mạch

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

IC Latch-Up Test
Số hiệu tiêu chuẩn	EIA JESD 78
Ngày phát hành	1997-03-00
Mục phân loại	33.040.50. Ðường dây, nối tiếp và mạch
Trạng thái	Có hiệu lực

IC Latch-Up Test
Số hiệu tiêu chuẩn	EIA JESD 78B
Ngày phát hành	2008-12-00
Mục phân loại	33.040.50. Ðường dây, nối tiếp và mạch
Trạng thái	Có hiệu lực

IC Latch-Up Test
Số hiệu tiêu chuẩn	EIA JESD 78C
Ngày phát hành	2010-09-00
Mục phân loại	33.040.50. Ðường dây, nối tiếp và mạch
Trạng thái	Có hiệu lực

IC Latch-Up Test
Số hiệu tiêu chuẩn	EIA JESD 78D
Ngày phát hành	2011-11-00
Mục phân loại	33.040.50. Ðường dây, nối tiếp và mạch
Trạng thái	Có hiệu lực

Latch-up in CMOS Integrated Circuits
Số hiệu tiêu chuẩn	EIA JESD 17
Ngày phát hành	1988-00-00
Mục phân loại	31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái	Có hiệu lực