Loading data. Please wait

prEN 60749-17

IEC 60749-17, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-11-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 60749-17
Tên tiêu chuẩn
IEC 60749-17, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
Ngày phát hành
2002-11-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
C96-022-17PR, IDT * IEC 47/1668/FDIS (2002-11), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
prEN 60749-17 (2001-11)
IEC 60749-17, Ed. 1: Neutron irradiation
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-17
Ngày phát hành 2001-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
EN 60749-17 (2003-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-17
Ngày phát hành 2003-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-17 (2003-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-17
Ngày phát hành 2003-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-17 (2002-11)
IEC 60749-17, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-17
Ngày phát hành 2002-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-17 (2001-11)
IEC 60749-17, Ed. 1: Neutron irradiation
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-17
Ngày phát hành 2001-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Destructive testing * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Neutron radiation * Radiation effects * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Số trang