Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

IEC 60749-20 Corrigendum 1*CEI 60749-20 Corrigendum 1

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-08-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

IEC 60749-20 Corrigendum 1*CEI 60749-20 Corrigendum 1

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat

Ngày phát hành

2003-08-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

DIN EN 60749-20 (2003-12), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-20 (2004-01-01), IDT * CSN EN 60749-20 (2003-12-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

IEC 60749-20 (2002-09)

Thay thế cho

Thay thế bằng

IEC 60749-20*CEI 60749-20 (2008-12)

Lịch sử ban hành

IEC 60749-20*CEI 60749-20 (2008-12) * IEC 60749-20 Corrigendum 1*CEI 60749-20 Corrigendum 1 (2003-08)

Từ khóa

Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture resistance * Plastics * Semiconductor devices * Semiconductors * SMD * Soldering temperature resistance * Surface mounting * Surface mounting devices * Testing * Thermal stability

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat
Số hiệu tiêu chuẩn	IEC 60749-20*CEI 60749-20
Ngày phát hành	2008-12-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực