Loading data. Please wait

IEEE 1149.1

Test access port and boundary-scan architecture

Số trang: 200
Ngày phát hành: 2001-00-00

Liên hệ
Revision Standard - Inactive - Superseded.Reaffirmed 2008. Circuitry that may be built into an integrated circuit to assist in the test, maintenance, and support of assembled printed circuit boards is defined. The circuitry includes a standard interface through which instructions and test data are communicated. A set of test features is defined, including a boundary-scan register, such that the component is able to respond to a minimum set of instructions designed to assist with testing of assembled printed circuit boards.
Số hiệu tiêu chuẩn
IEEE 1149.1
Tên tiêu chuẩn
Test access port and boundary-scan architecture
Ngày phát hành
2001-00-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
ANSI/IEEE 1149.1 (2001), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEEE 100*ANSI 100 (1988)
Dictionary of electrical and electronics terms
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 100*ANSI 100
Ngày phát hành 1988-00-00
Mục phân loại 01.040.29. Kỹ thuật điện (Từ vựng)
01.040.33. Viễn thông. Âm thanh, nghe nhìn (Từ vựng)
29.020. Kỹ thuật điện nói chung
33.020. Viễn thông nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1076 (2000)
VHDL - Language reference manual
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1076
Ngày phát hành 2000-00-00
Mục phân loại 35.060. Ngôn ngữ dùng trong công nghệ thông tin
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.4 (1999)
Thay thế cho
IEEE 1149.1*ANSI 1149.1 (1990)
Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1*ANSI 1149.1
Ngày phát hành 1990-00-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
35.200. Thiết bị mặt phân giới và liên thông
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1b (1994)
Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1b
Ngày phát hành 1994-00-00
Mục phân loại 35.240.50. Ứng dụng IT trong công nghiệp
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1b Errata (1996-08-19)
Test access port and boundary-scan architecture; Errata
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1b Errata
Ngày phát hành 1996-08-19
Mục phân loại 35.240.50. Ứng dụng IT trong công nghiệp
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1a (1993)
Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1a
Ngày phát hành 1993-00-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
IEEE 1149.1 (2013)
IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1
Ngày phát hành 2013-00-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
IEEE 1149.1b Errata (1996-08-19)
Test access port and boundary-scan architecture; Errata
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1b Errata
Ngày phát hành 1996-08-19
Mục phân loại 35.240.50. Ứng dụng IT trong công nghiệp
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1b (1994)
Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1b
Ngày phát hành 1994-00-00
Mục phân loại 35.240.50. Ứng dụng IT trong công nghiệp
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1*ANSI 1149.1 (1990)
Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1*ANSI 1149.1
Ngày phát hành 1990-00-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
35.200. Thiết bị mặt phân giới và liên thông
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1 (2001)
Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1
Ngày phát hành 2001-00-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1a (1993)
Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1a
Ngày phát hành 1993-00-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
Trạng thái Có hiệu lực
* IEEE 1149.1 (2013)
IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
Số hiệu tiêu chuẩn IEEE 1149.1
Ngày phát hành 2013-00-00
Mục phân loại 31.180. Mạch và bảng in
31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Computer hardware * Data processing * Definitions * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Integrated circuits * Printed circuits * Switching circuits * Testing * Hardware
Số trang
200