Test access port and boundary-scan architecture

IEEE 1149.1*ANSI 1149.1

Số trang: 136
Ngày phát hành: 1990-00-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Revision Standard - Inactive - Superseded.Circuitry that may be built into an integrated circuit to assist in the test, maintenance, and support of assembled printed circuit boards is defined. The circuitry includes a standard interface through which instructions and test data are communicated. A set of test features is defined, including a boundary-scan register, such that the component is able to respond to a minimum set of instructions designed to assist with testing of assembled printed circuit boards.

Số hiệu tiêu chuẩn

IEEE 1149.1*ANSI 1149.1

Tên tiêu chuẩn

Test access port and boundary-scan architecture

Ngày phát hành

1990-00-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

ANSI/IEEE 1149.1 (1990), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

Thay thế bằng

IEEE 1149.1 (2001) * IEEE 1149.1a (1993)

Lịch sử ban hành

IEEE 1149.1 (2001) * IEEE 1149.1a (1993) * IEEE 1149.1 (2013) * IEEE 1149.1 (1990)

Từ khóa

Computer hardware * Data processing * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Printed circuits * Switching circuits * Testing * Hardware

Mục phân loại

31.180. Mạch và bảng in
35.200. Thiết bị mặt phân giới và liên thông

Số trang

136

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn	IEEE 1149.1
Ngày phát hành	2001-00-00
Mục phân loại	31.180. Mạch và bảng in 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái	Có hiệu lực

Test access port and boundary-scan architecture
Số hiệu tiêu chuẩn	IEEE 1149.1a
Ngày phát hành	1993-00-00
Mục phân loại	31.180. Mạch và bảng in
Trạng thái	Có hiệu lực

IEEE Standard for Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
Số hiệu tiêu chuẩn	IEEE 1149.1
Ngày phát hành	2013-00-00
Mục phân loại	31.180. Mạch và bảng in 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái	Có hiệu lực