Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General (Cover document for IEC 60749 series)

Tìm kiếm nâng cao

prEN 60749-1

Số trang:
Ngày phát hành: 2001-05-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

prEN 60749-1

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General (Cover document for IEC 60749 series)

Ngày phát hành

2001-05-00

Trạng thái

Hết hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

DIN EN 60749-1 (2002-06), IDT * C96-022-1PR, IDT * IEC 47/1571/CDV (2001-05), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-1 (2001-07-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

Thay thế bằng

prEN 60749-1 (2002-06)

Lịch sử ban hành

EN 60749-1 (2003-06) * prEN 60749-1 (2002-06) * prEN 60749-1 (2001-05)

Từ khóa

Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Properties * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing * Environmental condition

Mục phân loại

31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

IEC 60749-1, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60749-1
Ngày phát hành	2002-06-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn	EN 60749-1
Ngày phát hành	2003-06-00
Mục phân loại	31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái	Có hiệu lực