Loading data. Please wait

prEN 60749-1

IEC 60749-1, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-06-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 60749-1
Tên tiêu chuẩn
IEC 60749-1, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Ngày phát hành
2002-06-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
IEC 47/1638/FDIS (2002-06), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
prEN 60749-1 (2001-05)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General (Cover document for IEC 60749 series)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-1
Ngày phát hành 2001-05-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
EN 60749-1 (2003-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-1
Ngày phát hành 2003-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-1 (2003-06)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General (IEC 60749-1:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-1
Ngày phát hành 2003-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-1 (2002-06)
IEC 60749-1, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-1
Ngày phát hành 2002-06-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-1 (2001-05)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General (Cover document for IEC 60749 series)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-1
Ngày phát hành 2001-05-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental condition * Environmental testing * Integrated circuits * Mechanical testing * Properties * Semiconductor devices * Semiconductors * Testing
Số trang