Loading data. Please wait

prEN 60749-25

IEC 60749-25, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Rapid change of temperature (air, air)

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-03-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 60749-25
Tên tiêu chuẩn
IEC 60749-25, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Rapid change of temperature (air, air)
Ngày phát hành
2002-03-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-25 (2002-09), IDT * C96-022-25PR, IDT * IEC 47/1616/CDV (2002-03), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-25 (2002-06-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
prEN 60749-25 (2003-04)
IEC 60749-25, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-25
Ngày phát hành 2003-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-25 (2003-09)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling (IEC 60749-25:2003)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-25
Ngày phát hành 2003-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-25 (2003-04)
IEC 60749-25, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-25
Ngày phát hành 2003-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-25 (2002-03)
IEC 60749-25, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Rapid change of temperature (air, air)
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-25
Ngày phát hành 2002-03-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Cycle-time * Definitions * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Ratings * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Soldered joints * Stress * Temperature * Test on changes of temperature * Testing * Testing conditions * Thermal shock endurance * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes * Density
Số trang