Loading data. Please wait

SAE J 1752/3

Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for integrated circuits Integrated Circuit Radiated Emissions Measurement procedure 150 kHz to 1000 MHz, TEM Cell

Số trang:
Ngày phát hành: 1995-03-01

Liên hệ
This SAE Recommended Practice defines a method for measuring the electromagnetic radiation from an integrated circuit. The method uses a standardized IC test board containing the IC being evaluated mounted to a mating port cut in the top or bottom of a 1 GHz TEM cell. The standardized test board controls the geometry and orientation of the operating IC relative to the TEM cell and eliminates any connecting leads within the cell (these are on the back side of the board which is outside the cell). One of the TEM cell feeds is terminated with a 50 ? load and the other one is connected to the input of a spectrum analyzer which measures the RF emissions over the frequency range of 150 kHz to 1000 MHz emanating from the integrated circuit and impressed onto the septum of the TEM cell (see Figure 1).
Số hiệu tiêu chuẩn
SAE J 1752/3
Tên tiêu chuẩn
Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for integrated circuits Integrated Circuit Radiated Emissions Measurement procedure 150 kHz to 1000 MHz, TEM Cell
Ngày phát hành
1995-03-01
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
Tiêu chuẩn liên quan
SAE J 1113/1 * SAE J 1752/1
Thay thế cho
Thay thế bằng
SAE J 1752/3 (2003-01-01)
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; TEM Cell (150 kHz to 1 GHz), Wideband TEM Cell (150 kHz to 8 GHz)
Số hiệu tiêu chuẩn SAE J 1752/3
Ngày phát hành 2003-01-01
Mục phân loại 33.100.10. Sự phát xạ
43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
SAE J 1752/3 (2011-06-17)
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; TEM Cell (150 kHz to 1 GHz), Wideband TEM Cell (150 kHz to 8 GHz)
Số hiệu tiêu chuẩn SAE J 1752/3
Ngày phát hành 2011-06-17
Mục phân loại 33.100.10. Sự phát xạ
43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
* SAE J 1752/3 (2003-01-01)
Measurement of Radiated Emissions from Integrated Circuits TEM/Wideband TEM (GTEM) Cell Method; TEM Cell (150 kHz to 1 GHz), Wideband TEM Cell (150 kHz to 8 GHz)
Số hiệu tiêu chuẩn SAE J 1752/3
Ngày phát hành 2003-01-01
Mục phân loại 33.100.10. Sự phát xạ
43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
* SAE J 1752/3 (1995-03-01)
Electromagnetic Compatibility Measurement Procedures for integrated circuits Integrated Circuit Radiated Emissions Measurement procedure 150 kHz to 1000 MHz, TEM Cell
Số hiệu tiêu chuẩn SAE J 1752/3
Ngày phát hành 1995-03-01
Mục phân loại 33.100.10. Sự phát xạ
43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Automotive engineering * Compatibility * Electromagnetic * Electromagnetic compatibility * Electromagnetic interferences * EMC * Emission * Integrated circuits * Methods for measuring * Radio disturbances
Số trang