Loading data. Please wait

IEC 60747-7 AMD 2*CEI 60747-7 AMD 2

Semiconductor discrete devices and integrated circuits - Part 7: Bipolar transistors; Amendment 2

Số trang: 5
Ngày phát hành: 1994-07-00

Liên hệ
Replaces the text of clause 2 (General terms).
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60747-7 AMD 2*CEI 60747-7 AMD 2
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor discrete devices and integrated circuits - Part 7: Bipolar transistors; Amendment 2
Ngày phát hành
1994-07-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN IEC 60747-7 (1997-12), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60747-7 (1988)
Thay thế cho
IEC/DIS 47(CO)1335 (1992-06)
Thay thế bằng
IEC 60747-7*CEI 60747-7 (2000-12)
Semiconductor devices - Part 7: Bipolar transistors
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-7*CEI 60747-7
Ngày phát hành 2000-12-00
Mục phân loại 31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
IEC 60747-7*CEI 60747-7 (2010-12)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 7: Bipolar transistors
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-7*CEI 60747-7
Ngày phát hành 2010-12-00
Mục phân loại 31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-7*CEI 60747-7 (2000-12)
Semiconductor devices - Part 7: Bipolar transistors
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-7*CEI 60747-7
Ngày phát hành 2000-12-00
Mục phân loại 31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-7 AMD 2*CEI 60747-7 AMD 2 (1994-07)
Semiconductor discrete devices and integrated circuits - Part 7: Bipolar transistors; Amendment 2
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-7 AMD 2*CEI 60747-7 AMD 2
Ngày phát hành 1994-07-00
Mục phân loại 31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-7 AMD 2 (1994-07) * IEC/DIS 47(CO)1335 (1992-06)
Từ khóa
Acceptance * Acceptance inspection * Acceptance tests * Bipolar * Bipolar transistors * Components * Definitions * Discrete * Discrete devices * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * High frequencies * Inspection * Integrated circuits * Layout * Life (durability) * Limits (mathematics) * Low frequencies * Low-frequency engineering * Marking * Measurement * Measuring techniques * Microwave transistors * Operating time * Power transistors * Properties * Radiofrequencies * Radiofrequency apparatus * Ratings * Reference measuring methods * Reference methods * Reliability * Semiconductor devices * Semiconductors * Specification (approval) * Switching transistors * Symbols * Testing * Transistors * Reception
Mục phân loại
Số trang
5