Loading data. Please wait
Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices
Số trang: 94
Ngày phát hành: 2006-10-00
System Soft Error Rate (SSER) Test Method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EIA JESD 89-1 |
Ngày phát hành | 2004-06-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
Measurement and Reporting of Alpha Particle and Terrestrial Cosmic Ray-Induced Soft Errors in Semiconductor Devices | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EIA JESD 89A |
Ngày phát hành | 2006-10-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |
System Soft Error Rate (SSER) Test Method | |
Số hiệu tiêu chuẩn | EIA JESD 89-1 |
Ngày phát hành | 2004-06-00 |
Mục phân loại | 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung |
Trạng thái | Có hiệu lực |