Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

ISO 3274

Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method; Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation; Contact profile meters, system M

Số trang: 7
Ngày phát hành: 1975-07-00

Liên hệ
Defines the basic terms relating to system M profile meters, gives the basic parameters of these instruments and their numerical values and specifies their metrological characteristics.
Số hiệu tiêu chuẩn
ISO 3274
Tên tiêu chuẩn
Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method; Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation; Contact profile meters, system M
Ngày phát hành
1975-07-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN 4768 (1990-05), MOD * DIN 4768 (1989-01), MOD * DIN 4772 (1979-11), MOD * NF E05-017 (1972-12-01), NEQ * E05-052 (1986-02-01), IDT * JIS B 0601 (1994-02-01), MOD * VSM 58101 (1976), IDT * OENORM M 1114 (1982-11-01), MOD * UNE 82314 (1991-12-02), IDT * TS 2495 (1977-01-06), IDT * DS/ISO 3274 (1981), IDT * NEN 3635:1980 nl (1980-11-01), NEQ
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
ISO 3274 (1996-12)
Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
Số hiệu tiêu chuẩn ISO 3274
Ngày phát hành 1996-12-00
Mục phân loại 17.040.20. Tính chất bề mặt
17.040.30. Dụng cụ đo
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
ISO 3274 (1996-12)
Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics of contact (stylus) instruments
Số hiệu tiêu chuẩn ISO 3274
Ngày phát hành 1996-12-00
Mục phân loại 17.040.20. Tính chất bề mặt
17.040.30. Dụng cụ đo
Trạng thái Có hiệu lực
* ISO 3274 (1975-07)
Instruments for the measurement of surface roughness by the profile method; Contact (stylus) instruments of consecutive profile transformation; Contact profile meters, system M
Số hiệu tiêu chuẩn ISO 3274
Ngày phát hành 1975-07-00
Mục phân loại 17.040.20. Tính chất bề mặt
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Contact stylus instruments * Definitions * Dimensions * Filters * Finishes * Marking * Measurement * Measuring instruments * Meters * Metrology * Profile * Properties * Ripple * Roughness * Roughness (surface) * Specification (approval) * Stylus instrument method * Surfaces * Testing * Tolerances (measurement) * Transmission
Mục phân loại
17.040.20. Tính chất bề mặt
Số trang
7

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN