Loading data. Please wait

prEN 60749-3

IEC 60749-3, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test method - Part 3: External visual inspection

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-01-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 60749-3
Tên tiêu chuẩn
IEC 60749-3, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test method - Part 3: External visual inspection
Ngày phát hành
2002-01-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
IEC 47/1596/FDIS (2002-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
prEN 60749-3 (2000-07)
External visual inspection
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-3
Ngày phát hành 2000-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
EN 60749-3 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-3
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-3 (2002-08)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (IEC 60749-3:2002)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-3
Ngày phát hành 2002-08-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-3 (2002-01)
IEC 60749-3, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test method - Part 3: External visual inspection
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-3
Ngày phát hành 2002-01-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-3 (2000-07)
External visual inspection
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-3
Ngày phát hành 2000-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Climate * Climatic tests * Components * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes * Density
Số trang