Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

prEN 60749-5

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias test

Số trang:
Ngày phát hành: 2002-01-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 60749-5
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady state temperature humidity bias test
Ngày phát hành
2002-01-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN EN 60749-5 (2002-06), IDT * IEC 47/1600/CDV (2002-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-5 (2002-03-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-14 (2002-06-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
prEN 60749-5 (2002-10)
IEC 60749-5, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-5
Ngày phát hành 2002-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 60749-5 (2003-03)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 60749-5:2003)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 60749-5
Ngày phát hành 2003-03-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 60749-5 (2002-10)
IEC 60749-5, Ed. 1: Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 60749-5
Ngày phát hành 2002-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Climate * Climatic tests * Components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Integrated circuits * Life (durability) * Mechanical testing * Moisture test * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature test * Testing
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN