Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

AEC Q100-006 Rev C

Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)

Số trang:
Ngày phát hành: 1998-10-08

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
AEC Q100-006 Rev C
Tên tiêu chuẩn
Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Ngày phát hành
1998-10-08
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
AEC Q100-006 Rev B (1996-09-06)
Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Số hiệu tiêu chuẩn AEC Q100-006 Rev B
Ngày phát hành 1996-09-06
Mục phân loại 43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
AEC Q100-006 Rev D (2003-07-18)
Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Số hiệu tiêu chuẩn AEC Q100-006 Rev D
Ngày phát hành 2003-07-18
Mục phân loại 43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
AEC Q100-006 Rev D (2003-07-18)
Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Số hiệu tiêu chuẩn AEC Q100-006 Rev D
Ngày phát hành 2003-07-18
Mục phân loại 43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
* AEC Q100-006 Rev B (1996-09-06)
Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Số hiệu tiêu chuẩn AEC Q100-006 Rev B
Ngày phát hành 1996-09-06
Mục phân loại 43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
* AEC Q100-006 Rev A (1995-05-15)
Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Số hiệu tiêu chuẩn AEC Q100-006 Rev A
Ngày phát hành 1995-05-15
Mục phân loại 43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
* AEC Q100-006 (1994-06-09)
Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Số hiệu tiêu chuẩn AEC Q100-006
Ngày phát hành 1994-06-09
Mục phân loại 43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
* AEC Q100-006 Rev C (1998-10-08)
Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 6 - Electro-Thermally Induced Parasitic Gate Leakage Test (GL)
Số hiệu tiêu chuẩn AEC Q100-006 Rev C
Ngày phát hành 1998-10-08
Mục phân loại 43.040.10. Thiết bị điện
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Automobiles * Automotive engineering * Built-in units * Components * Definitions * Electrical components * Electrical equipment * Electronic engineering * Electronic equipment * Electronic instruments * Electrotechnology * Electrothermal * Forward voltage * Integrated circuits * Interference susceptibility * Leakage current * Motorcar industry * Reliability * Reliability testing * Sellers * Specification (approval) * Testing * Vehicles piece parts * Voltage measuring
Mục phân loại
43.040.10. Thiết bị điện
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN