Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

EIA JESD 89-3A

Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate

Số trang: 28
Ngày phát hành: 2007-11-00

Liên hệ
This test is used to determine the terrestrial cosmic ray Soft Error Rate (SER) sensitivity of solid state volatile memory arrays and bistable logic elements (e.g. flip-flops) by measuring the error rate while the device is irradiated in a neutron or proton beam of known flux. The results of this accelerated test can be used to estimate the terrestrial cosmic ray induced SER for a given terrestrial cosmic ray radiation environment. This test cannot be used to project alpha-particleinduced SER.
Số hiệu tiêu chuẩn
EIA JESD 89-3A
Tên tiêu chuẩn
Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
Ngày phát hành
2007-11-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
EIA JESD 89-3 (2005-09)
Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
Số hiệu tiêu chuẩn EIA JESD 89-3
Ngày phát hành 2005-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
EIA JESD 89-3A (2007-11)
Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
Số hiệu tiêu chuẩn EIA JESD 89-3A
Ngày phát hành 2007-11-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* EIA JESD 89-3 (2005-09)
Test Method for Beam Accelerated Soft Error Rate
Số hiệu tiêu chuẩn EIA JESD 89-3
Ngày phát hành 2005-09-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Alpha-particles * Cosmic radiation * Errors * Induced * Measurement * Semiconductor devices * Soft * Terrestrial
Mục phân loại
31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Số trang
28

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN