Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980)

EN 60444-2

Số trang:
Ngày phát hành: 1997-04-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Số hiệu tiêu chuẩn

EN 60444-2

Tên tiêu chuẩn

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980)

Ngày phát hành

1997-04-00

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

DIN EN 60444-2 (1997-10), IDT * BS EN 60444-2 (1993-09-15), IDT * NF C93-622 (2001-07-01), IDT * IEC 60444-2 (1980), IDT * SN EN 60444-2 (1997), IDT * OEVE EN 60444-2 (1997-06-03), IDT * PN-IEC 444-2 (1996-02-05), IDT * PN-IEC 444-2/Ap1 (1999-05-21), IDT * SS-EN 60444-2 (1998-02-27), IDT * STN EN 60444-2 (2000-12-01), IDT * CSN EN 60444-2 (1998-09-01), IDT * DS/EN 60444-2 (1998-06-08), IDT * NEN-EN-IEC 60444-2:1997 en;fr (1997-08-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

IEC 60302 (1969)

Thay thế cho

prEN 60444-2 (1996-07)

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

EN 60444-2 (1997-04) * prEN 60444-2 (1996-07)

Từ khóa

Capacitance measurement * Circuit networks * Connections for measurement * Crystals (electronic) * Dynamic * Electrical engineering * Measurement * Measuring accuracy * Measuring techniques * Motional * Parameters * Phase measurement (electric) * Phase offset method * Piezoelectric * Piezoelectric devices * Piezoelectricity * Principle of measurement * Zero phase * Zero-method

Mục phân loại

31.140. Dụng cụ áp điện

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a pi-network - Part 2: Phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units (IEC 60444-2:1980)
Số hiệu tiêu chuẩn	prEN 60444-2
Ngày phát hành	1996-07-00
Mục phân loại	31.140. Dụng cụ áp điện
Trạng thái	Có hiệu lực