Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

UTE C96-041U*UTE C96-041

Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1 : general.

Số trang: 18
Ngày phát hành: 1989-09-01

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
UTE C96-041U*UTE C96-041
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1 : general.
Ngày phát hành
1989-09-01
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
CEI 60748-1:1984,IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60747-1*CEI 60747-1 (2006-02)
Semiconductor devices - Part 1: General
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-1*CEI 60747-1
Ngày phát hành 2006-02-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* CEI 60748-3
Thay thế cho
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
Từ khóa
Integrated circuits * Reliability * Performance testing * Semiconductor devices * Endurance testing * Temperature * Testing conditions * Test duration * Measurement * Rated voltage * Electrical testing * Acceptance inspection * Electronic equipment and components * Symbols * Definitions * Measuring * Properties * Basic (priority)
Mục phân loại
31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Số trang
18

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN