Loading data. Please wait

IEC 60749-26*CEI 60749-26

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Human body model (HBM)

Số trang: 36
Ngày phát hành: 2003-10-00

Liên hệ
Establishes a standard procedure for testing and classifying semiconductor devices according to their susceptibility to damage or degradation by exposure to a defined human body model electrostatic discharge. The objective is to provide reliable, repeatable test results so that accurate classifications can be performed. The testing shall be selected from this test method or the machine model test method (see IEC 60749-27).
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-26*CEI 60749-26
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Human body model (HBM)
Ngày phát hành
2003-10-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60749-27 (2003-10)
Thay thế cho
IEC 47/1703/FDIS (2003-06) * IEC/PAS 62179 (2000-08)
Thay thế bằng
IEC 60749-26*CEI 60749-26 (2006-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-26*CEI 60749-26
Ngày phát hành 2006-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
IEC 60749-26*CEI 60749-26 (2006-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-26*CEI 60749-26
Ngày phát hành 2006-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-26*CEI 60749-26 (2013-04)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-26*CEI 60749-26
Ngày phát hành 2013-04-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-26 (2003-10) * IEC 47/1703/FDIS (2003-06) * IEC 47/1623/CDV (2002-04) * IEC/PAS 62179 (2000-08)
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Classification * Climate * Climatic tests * Components * Dimensions * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Electrostatics * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Failure * Flammability * Heat * Human body * Integrated circuits * Mechanical testing * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Temperature * Testing * Tightness * Visual inspection (testing) * Impermeability * Freedom from holes * Density
Số trang
36