Loading data. Please wait

IEC 60747-4*CEI 60747-4

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors

Số trang: 276
Ngày phát hành: 2007-08-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60747-4*CEI 60747-4
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave diodes and transistors
Ngày phát hành
2007-08-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
BS IEC 60747-4 (2008-02-29), IDT * NEN-IEC 60747-4:2007 en (2007-10-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60050-702*CEI 60050-702 (1992-03)
International electrotechnical vocabulary; chapter 702: oscillations, signals and related devices
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60050-702*CEI 60050-702
Ngày phát hành 1992-03-00
Mục phân loại 01.040.29. Kỹ thuật điện (Từ vựng)
01.040.31. Ðiện tử (Từ vựng)
29.020. Kỹ thuật điện nói chung
31.020. Thành phần điện tử nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-16-1 AMD 1*CEI 60747-16-1 AMD 1 (2007-01)
Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers; Amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-16-1 AMD 1*CEI 60747-16-1 AMD 1
Ngày phát hành 2007-01-00
Mục phân loại 31.080.99. Thiết bị bán dẫn khác
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-1 (2006-02) * IEC 60747-7 (2000-12) * IEC 60747-8 (2000-12) * IEC 60747-16-1 (2001-11)
Thay thế cho
IEC 60747-4*CEI 60747-4 (1991-04)
Semiconductor devices; discrete devices; part 4: microwave diodes and transistors
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4*CEI 60747-4
Ngày phát hành 1991-04-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-4 AMD 1*CEI 60747-4 AMD 1 (1993-10)
Semiconductor devices; discrete devices; part 4: microwave diodes and transistors; amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4 AMD 1*CEI 60747-4 AMD 1
Ngày phát hành 1993-10-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-4 AMD 2*CEI 60747-4 AMD 2 (1999-04)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices; Amendment 2
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4 AMD 2*CEI 60747-4 AMD 2
Ngày phát hành 1999-04-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-4 Edition 1.2*CEI 60747-4 Edition 1.2 (2001-09)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4 Edition 1.2*CEI 60747-4 Edition 1.2
Ngày phát hành 2001-09-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47E/330/FDIS (2007-05)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60747-4*CEI 60747-4 (1991-04)
Semiconductor devices; discrete devices; part 4: microwave diodes and transistors
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4*CEI 60747-4
Ngày phát hành 1991-04-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-4 AMD 1*CEI 60747-4 AMD 1 (1993-10)
Semiconductor devices; discrete devices; part 4: microwave diodes and transistors; amendment 1
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4 AMD 1*CEI 60747-4 AMD 1
Ngày phát hành 1993-10-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-4 AMD 2*CEI 60747-4 AMD 2 (1999-04)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices; Amendment 2
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4 AMD 2*CEI 60747-4 AMD 2
Ngày phát hành 1999-04-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-4 Edition 1.2*CEI 60747-4 Edition 1.2 (2001-09)
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4: Microwave devices
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-4 Edition 1.2*CEI 60747-4 Edition 1.2
Ngày phát hành 2001-09-00
Mục phân loại 31.080.10. Ðiôt
31.080.30. Tranzito
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-4 (2007-08) * IEC 47E/330/FDIS (2007-05) * IEC 47E/281/CDV (2005-05) * IEC 47E/123/FDIS (1998-12) * IEC 47E/41/CDV (1996-03) * IEC/DIS 47(CO)1251 (1991-09) * IEC/DIS 47(CO)1280 (1991-08) * IEC/DIS 47(CO)1290 (1991-07)
Từ khóa
Acceptance inspection * Avalanche diodes * Bipolar transistors * Components * Continuity tests * Definitions * Diodes * Discrete devices * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Field-effect transistors * Gunn diodes * Inspection * Integrated circuits * Limits (mathematics) * Marking * Measurement * Measuring techniques * Microwave transistors * Mixer diode * Qualification tests * Ratings * Reliability * Routine check tests * Semiconductor devices * Semiconductors * Specification (approval) * Symbols * Transistors * Fatigue tests
Số trang
276