Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000

Semiconductor devices. Discrete devices. Part 10 : Generic specifications for discrete devices and integrated circuits.

Số trang: 50
Ngày phát hành: 1984-00-00

Liên hệ
Is part of the IEC Quality Assessment Sytem for Electronic Components, does not apply to optoelectronic devices and hybrid circuits, and covers measuring methods of electrical characteristics, climatic and mechanical tests and endurance tests, specifying test and measurement procedures.
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices. Discrete devices. Part 10 : Generic specifications for discrete devices and integrated circuits.
Ngày phát hành
1984-00-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
DIN IEC 60747-10 (1987-10), IDT * BS 9970-0 (1985-05-31), IDT * UTE C96-010U (1989-08-01), IDT * SEV-ASE 3608-10 (1987), IDT * GOST 28623 (1990), IDT * TS 9331 (1991-04-26), IDT * DS/IEC 747-10 (1986), IDT * NEK-QC 700 000 (1984), MOD * STN 35 8797-10 - IEC 60747-10 (1988-02-29), IDT * NEN 10747-10:1985 en;fr (1985-08-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000 (1991-04)
Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000
Ngày phát hành 1991-04-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000 (1991-04)
Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000
Ngày phát hành 1991-04-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-10 (1984)
Từ khóa
Discrete * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Generic specification * Inspection * Integrated circuits * Marking * Measurement * Quality * Quality assessment * Quality assurance * Quality assurance systems * Samples * Semiconductor devices * Semiconductors * Specification * Specification (approval) * Specifications * Testing * Type approval * Visual inspection (testing) * Quality assessment systems * Random samples * Discrete devices * Fatigue tests * Continuity tests * Components * Design certifications
Mục phân loại
31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Số trang
50

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN