Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11 : Sectional Specification for discrete devices

IEC 60747-11CEI 60747-11QC 750100

Số trang: 35
Ngày phát hành: 1985-00-00

Liên hệ

Tóm tắt
Chi tiết

Applicable to quality assessment for discrete semiconductor devices. Gives specific requirements for quality conformance inspection (included in QC 750000 of the IECQ system) and identification of terminals; represents the sectional specification. Contains preferred values of voltages and currents.

Số hiệu tiêu chuẩn

IEC 60747-11*CEI 60747-11*QC 750100

Tên tiêu chuẩn

Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11 : Sectional Specification for discrete devices

Ngày phát hành

1985-00-00

Trạng thái

Có hiệu lực

Tiêu chuẩn tương đương

DIN IEC 60747-11 (1992-04), IDT * BS QC 750100+A2 (1986-12-31), IDT * GB/T 12560 (1999), IDT * UTE C96-011U (1989-08-01), IDT * SEV-ASE 3608-11 (1987), IDT * PN-T-01204 (1990-01-02), IDT * UNE 20700-11 (1991-09-12), IDT * GOST 28624 (1990), IDT * TS 9332 (1991-04-26), IDT * TS IEC 60747-11 (2010-03-09), IDT * DS/IEC 747-11 (1987), IDT * NEN 10747-11 (1986), IDT * CSN 35 8797-11 IEC 747-11 (1989-09-01), IDT * DS/IEC 747-11 (1987-01-01), IDT * NEN 10747-11:1986 en;fr (1986-06-01), IDT

Tiêu chuẩn liên quan

Thay thế cho

Thay thế bằng

Lịch sử ban hành

IEC 60747-11 (1985)

Từ khóa

Components * Electrical engineering * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Inspection * Integrated circuits * Marking * Measurement * Methods for measuring * Quality * Quality assessment * Quality assessment systems * Sectional specification * Semiconductor devices * Semiconductors * Specification (approval) * Specifications * Testing * Discrete devices

Mục phân loại

31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử

Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN