Loading data. Please wait

IEC 60749-27*CEI 60749-27

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)

Số trang: 25
Ngày phát hành: 2006-07-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60749-27*CEI 60749-27
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Ngày phát hành
2006-07-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
NF C96-022-27*NF EN 60749-27 (2006-12-01), IDT
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27 : electrostatic discharge (ESD) sensivity testing - Machine model (MM)
Số hiệu tiêu chuẩn NF C96-022-27*NF EN 60749-27
Ngày phát hành 2006-12-01
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* DIN EN 60749-27 (2007-01), IDT * DIN EN 60749-27 (2013-04), IDT * ABNT NBR IEC 60749-27 (2011-02-28), IDT * BS EN 60749-27+A1 (2006-09-29), IDT * EN 60749-27 (2006-08), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-27 (2007-03-01), IDT * OEVE/OENORM EN 60749-27 (2013-07-01), IDT * PN-EN 60749-27 (2006-11-28), IDT * PN-EN 60749-27 (2008-02-05), IDT * SS-EN 60749-27 (2006-11-20), IDT * STN EN 60749-27 (2007-05-01), IDT * CSN EN 60749-27 (2007-03-01), IDT * NEN-EN-IEC 60749-27:2007 en;fr (2007-11-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
IEC 60749-26*CEI 60749-26 (2006-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-26*CEI 60749-26
Ngày phát hành 2006-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 61340-3-2*CEI 61340-3-2 (2002-03)
Electrostatics - Part 3-2: Methods for simulation of electrostatic effects; Machine model (MM); Component testing
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 61340-3-2*CEI 61340-3-2
Ngày phát hành 2002-03-00
Mục phân loại 17.220.20. Ðo các đại lượng điện và từ
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế cho
IEC 60749-27*CEI 60749-27 (2003-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-27*CEI 60749-27
Ngày phát hành 2003-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1861/FDIS (2006-03)
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60749-27*CEI 60749-27 (2003-10)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing; Machine model (MM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-27*CEI 60749-27
Ngày phát hành 2003-10-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60749-27*CEI 60749-27 (2006-07)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 27: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Machine model (MM)
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60749-27*CEI 60749-27
Ngày phát hành 2006-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 47/1861/FDIS (2006-03) * IEC 47/1804/CDV (2005-01) * IEC 47/1704/FDIS (2003-06) * IEC 47/1624/CDV (2002-04) * IEC/PAS 62180 (2000-08)
Từ khóa
Atmospheric pressure * Changes of temperature * Classification * Classification systems * Climate * Climatic tests * Components * Definitions * Dimensions * Discharge * Electrical components * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Electrostatic * Electrostatic discharges * Electrostatics * Environment * Environmental testing * Environmental tests * Flammability * Heat * Impulse loadability * Integrated circuits * Machines * Measuring equipment * Mechanical testing * Models * Moisture * Resistance * Semiconductor devices * Semiconductors * Sensitivity * Simulation * Temperature * Testing * Testing devices * Visual inspection (testing) * Checking equipment * Engines * Patterns
Số trang
25