Loading data. Please wait

IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000

Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits

Số trang: 86
Ngày phát hành: 1991-04-00

Liên hệ
Defines general procedures for quality assessment to be used in the IECQ System and gives general rules for: - measurement methods of electrical characteristics; - climatic and mechanical tests; - endurance tests.
Số hiệu tiêu chuẩn
IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000
Tên tiêu chuẩn
Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits
Ngày phát hành
1991-04-00
Trạng thái
Có hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
BS IEC 60747-10 (1991-09-30), IDT * GB/T 4589.1 (2006), IDT * PN-T-01103 (1992-12-31), IDT * SS-IEC 747 (1993-07-30), IDT * CSN IEC 747-10 (1994-12-01), IDT * DS/IEC 747-10 (1992-03-01), IDT * NEN 10747-10:1997 en;fr (1997-04-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000 (1984)
Semiconductor devices. Discrete devices. Part 10 : Generic specifications for discrete devices and integrated circuits.
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000
Ngày phát hành 1984-00-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000 (1991-04)
Semiconductor devices; part 10: generic specification for discrete devices and integrated circuits
Số hiệu tiêu chuẩn IEC 60747-10*CEI 60747-10*QC 700000
Ngày phát hành 1991-04-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* IEC 60747-10 (1984)
Từ khóa
Discrete * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Inspection * Integrated circuits * Marking * Measurement * Quality * Quality assessment * Quality assurance * Quality assurance systems * Samples * Semiconductor devices * Specification * Specifications * Testing * Type approval * Visual inspection (testing) * Quality assessment systems * Generic specification * Random samples * Fatigue tests * Continuity tests * Components * Design certifications
Số trang
86