Loading data. Please wait

prEN 62258-2

IEC 62258-2, Ed. 1.0: Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats

Số trang:
Ngày phát hành: 2003-07-00

Liên hệ
Số hiệu tiêu chuẩn
prEN 62258-2
Tên tiêu chuẩn
IEC 62258-2, Ed. 1.0: Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats
Ngày phát hành
2003-07-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
IEC 47/1715/CDV (2003-07), IDT * OEVE/OENORM EN 62258-2 (2003-10-01), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
Thay thế bằng
prEN 62258-2 (2005-03)
IEC 62258-2, Ed. 1: Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 62258-2
Ngày phát hành 2005-03-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
Lịch sử ban hành
EN 62258-2 (2011-07)
Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats (IEC 62258-2:2011)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 62258-2
Ngày phát hành 2011-07-00
Mục phân loại 31.080.01. Thiết bị bán dẫn nói chung
35.040. Bộ ký tự và mã hóa thông tin
Trạng thái Có hiệu lực
* EN 62258-2 (2005-06)
Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats (IEC 62258-2:2005)
Số hiệu tiêu chuẩn EN 62258-2
Ngày phát hành 2005-06-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 62258-2 (2005-03)
IEC 62258-2, Ed. 1: Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 62258-2
Ngày phát hành 2005-03-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
* prEN 62258-2 (2003-07)
IEC 62258-2, Ed. 1.0: Semiconductor die products - Part 2: Exchange data formats
Số hiệu tiêu chuẩn prEN 62258-2
Ngày phát hành 2003-07-00
Mục phân loại 31.200. Mạch tổ hợp. Vi điện tử
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Assemblies * Chips * Components * Connections * Data exchange * Data formats * Definitions * Delivery * Electrical engineering * Electrical measurement * Electronic engineering * Electronic equipment and components * Environmental testing * Implementation * Integrated circuits * Materials * Mechanical testing * Production * Semiconductor devices * Semiconductors * Specification (approval) * Testing * Wafers * Information exchange * Applications * Lines * Use
Số trang