Loading data. Please wait

Tra cứu tiêu chuẩn  
Tìm kiếm nâng cao

ANSI/TIA/EIA-526-4A

Optical Eye Pattern Measurement Procedure

Số trang:
Ngày phát hành: 1997-00-00

Liên hệ
This procedure describes a method of measuring the repetitive temporal characteristics of a two-level, intensity-modulated optical waveform (eye pattern) at an optical interface point. From the measured eye pattern, waveform parameters such as rise time, fall time, overshoot, and extinction ratio can be extracted. Alternatively, the waveform can be tested for compliance with a predetermined waveform mask.
Số hiệu tiêu chuẩn
ANSI/TIA/EIA-526-4A
Tên tiêu chuẩn
Optical Eye Pattern Measurement Procedure
Ngày phát hành
1997-00-00
Trạng thái
Hết hiệu lực
Tiêu chuẩn tương đương
EIA/TIA-526-4-A (1997-11), IDT
Tiêu chuẩn liên quan
Thay thế cho
ANSI/TIA/EIA 526-4 (1995)
Optical Eye Pattern Measurement Procedure
Số hiệu tiêu chuẩn ANSI/TIA/EIA 526-4
Ngày phát hành 1995-00-00
Mục phân loại 33.180.01. Hệ thống sợi quang học nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Thay thế bằng
Lịch sử ban hành
ANSI/TIA/EIA 526-4 (1995)
Optical Eye Pattern Measurement Procedure
Số hiệu tiêu chuẩn ANSI/TIA/EIA 526-4
Ngày phát hành 1995-00-00
Mục phân loại 33.180.01. Hệ thống sợi quang học nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
* ANSI/TIA/EIA-526-4A (1997)
Optical Eye Pattern Measurement Procedure
Số hiệu tiêu chuẩn ANSI/TIA/EIA-526-4A
Ngày phát hành 1997-00-00
Mục phân loại 33.180.01. Hệ thống sợi quang học nói chung
Trạng thái Có hiệu lực
Từ khóa
Fibre optics * Measuring techniques * Optical waveguides
Mục phân loại
33.180.01. Hệ thống sợi quang học nói chung
Số trang

LOẠI TIÊU CHUẨN PHỔ BIẾN | TẤT CẢ LOẠI TIÊU CHUẨN